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Beratung zu Yield und Datenanalyse

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Ver­bes­se­rung von Defekt-Engi­nee­ring Metho­den

Was wir dar­un­ter ver­ste­hen

Früh­zei­ti­ges Erken­nen von Pro­zess­pro­ble­men und pro­ak­ti­ves Gegen­steu­ern gewähr­leis­tet gerings­te Rekla­ma­ti­ons­ra­ten.

Wie wir es tun

Wir erar­bei­ten durch Metho­den wie Sam­pling, Ent­wick­lung von Mess­stra­te­gien, Defekt- zu Yield Kor­re­la­tio­nen, Defekt Reportings, Erar­bei­tung von Defekt­ka­ta­lo­gen, sta­tis­ti­sche Ana­ly­sen von Defekt­da­ten im Zusam­men­hang mit den in Ihrem Pro­duk­ti­ons­um­feld anfal­len­den Daten die rich­ti­ge und effek­tivs­te Her­an­ge­hens­wei­se für Sie und sor­gen für eine nach­hal­ti­ge Nut­zung in Ihrer Orga­ni­sa­ti­on.

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    Bei­spiel 1

    Chip basier­te Defekt zu Yield Kor­re­la­ti­on

    kill-rate-berech­nung

    ‚Con­ti­gen­cy table‘ Metho­de / Berech­nung von Kill Rate & Defect Rela­ted Loss

    Rand­be­din­gun­gen

    Güte der Inspek­ti­ons­re­zep­te, Defekt­fil­te­rung: gro­ße Defek­te, ‚Adder‘, ‚Defect(s) of Inte­rest‘ je Inspek­ti­ons­schritt, nied­ri­ger para­me­tri­scher Yield Loss, Aus­schluss von ‘low yiel­ding wafern‘

    Pro­zesschritt A

    defects-defect-engi­nee­ring-pro­jekt­bei­spiel
    kill-rate-defect-engi­nee­ring-pro­jekt­bei­spiel

    Kill Rate: 21%
    Defect Rela­ted Loss: 3,1%
    (All Bin­sorts)

    Bei­spiel 2

    Yield cor­re­la­ti­on with inti­ti­al lar­ge detect fil­ters

    lar­ge-defects-defect-engi­nee­ring-pro­jekt­bei­spiel

    4 weeks data, one pro­duct, stan­dard wafer, Lar­ge defects only, spe­cial defect rela­ted bin­sorts used, low yiel­ding wafer exclu­ded

    Bei­spiel 3

    Lar­ge Defect Fil­ter defi­ni­ti­on and opti­miz­a­ti­on

    defect-fil­ter-opti­miz­a­ti­on-befo­re-pro­jekt­bei­spiel

    Fil­ter:
    Volu­me > 35 & Gra­de > 50

    Initi­al defi­ni­ti­on of Lar­ge Defect fil­ter by inspec­tion tool raw para­me­ters: Volume/ Gra­de (DF inspec­tion), DSIZE (BF inspec­tion)

    defect-fil­ter-opti­miz­a­ti­on-volu­me-kill-rate
    defect-fil­ter-opti­miz­a­ti­on-gra­de-kill-rate

    New Fil­ter:
    Volu­me > 25 & Gra­de > 50

    Opti­miz­a­ti­on of Lar­ge Defect fil­ter by kill rate and defec­ti­ve rela­ted yield loss ana­ly­sis

    Initi­al defi­ni­ti­on of Lar­ge Defect fil­ter by inspec­tion tool raw para­me­ters: Volume/ Gra­de (DF inspec­tion), DSIZE (BF inspec­tion)

    Opti­miz­a­ti­on of Lar­ge Defect fil­ter by kill rate and defec­ti­ve rela­ted yield loss ana­ly­sis

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