Referenzen

Infineon Technologies (Malaysia) Sdn. Bhd.

Unterstützung bei einem Yieldverbesserungsprojekt in einer Assembly und Test Linie bei Infineon:
Kommentar: „Durch Einführung von entsprechenden Methoden konnten wir eine signifikante Yieldsteigerung erreichen.“

Infineon Technologies AG, Regensburg

Unterstützung der Defektdichtegruppe durch sehr erfahrene und effektive Mitarbeit und Erarbeiten von methodischen Verbesserungspotentialen.

ELMOS Semiconductor AG

Unterstützung bei der Optimierung der produktionsinternen Zero Defect Strategy für Automotive Anforderungen.

Reichle&De Massari AG

Unterstützung bei der Definition und Implementierung einer Prozessüberwachung in der Produktion von Glasfasersteckern sowie Beratung zur Optimierung der Datenlandschaft zur Produktionssteuerung.
Kommentar: „Fachlich fundierte Beratung und kompetente Unterstützung während der Definitions- und Implementierungsphase. Wir schätzten insbesondere die sehr strukturierte und zielorientierte Herangehensweise.“

Bosch GmbH Reutlingen

Benchmarking und Potentialanalyse des Defektdichteaufsatzes in der 200 mm HL-Linie.
Benchmarking und Potentialanalyse des Defektdichteaufsatzes in der MEMS-Linie.
Unterstützung bei der Optimierung der Methodik und des Reporting von Defekt zu Yield Korrelation zur verbesserten Priorisierung der Topthemen.
Workshopmoderation und Begleitung bei der Organisationsentwicklung des QMM Bereiches der Robert Bosch GmbH Werk Reutlingen Halbleiter & Sensoren.

Semikron Elektronik GmbH & Co. KG

Unterstützung bei der Definition eines Regelwerks zur Bestimmung von kritischen Produkt- und Prozessmerkmalen (Parametern) und Durchführung einer Risikobetrachtung zur Einordnung dieser Merkmale.

OSRAM GmbH

Konzepterstellung für Defektdichte-Reduzierung und Einbringen von geeigneten Halbleitermethoden und Erfahrungen.

ATOTECH Deutschland GmbH

Unterstützung bei der Einführung statistischer Prozesskontrolle im Bereich Chemie mit Fokus auf Halbleiterindustrieanforderungen.
Technische Beratung bei der Definition von reinraumtauglicher Anlagenherstellung.
Durchführung einer Potentialanalyse im Entwicklungs- und Produktionsbereich eines Halbleiterproduktes.

ABB Semiconductor Zürich AG

Beratung zum technischen und methodischen Aufsatz eines verbesserten Inline Defektmonitoring in der Fotolithographie zur frühzeitigen Erkennung von Prozessproblemen.

Globalfoundries Fab1

Requirements engineering for an in-house software development.
Focus on collection and translation of key user needs into SW development requirements to assure most efficient results.
Beratung zu Möglichkeiten einer losbasierten Yieldvorhersage. Einlernen von neuen Mitarbeiter in Yieldkorrelationsmethoden.
Unterstützung der Projektleitung beim Aufsatz und der Einführung eines Monitoringkonzeptes mit Testwafer